➤ Raspon napona od 10-120kV;
➤ W i LaB6 katoda;
➤ Razlučivost „point resolution“ 0,38 nm;
➤ Razlučivost „lattice resolution“ 0,2 nm;
➤ Max. povećanje uređaja: 1 200 000 puta;
➤ Min. povećanje bez digitalne obrade slike: 10 puta;
➤ Goniometar s max. motoriziranim nagibom (eng. specimen tilt angle) od ± 70˚;
➤ Pretkomora za uzorke (eng. airlock) s vakuumskim ispumpavanjem do visokog vakuuma (sekundaran vakuum) za zaštitu od onečišćenja uzoraka u pretkomori;
➤ Standardni nosač za unos uzorka/mrežice u mikroskop;
➤ Višestruki nosač za unos četiri (4) uzorka/mrežice;
➤ Automatski podizač izvora elektrona (eng. automatic gun lift) za izmjenu filamenta i funkciju „bake out“ tj. pregrijavanje kolone za poboljšanje vakuuma i zaštitu od kontaminacije na uzorku;
➤ Raspon motoriziranih pomaka postolja: X od -1 mm do +1 mm. Y od -1 mm do +1 mm, Z od -0.5 mm do +0.5 m;
➤ Integrirana CMOS kamera s mogućnošću promatranja od min. 10 puta do min. 1.000.000 puta te mogućnošću „frame rate“ promatranja od min. 25 fps pri razlučivosti od min. 2048 x 2048 piksela;
➤ Mogućnost promatranja slike pomoću kamere i fluorescentnog ekrana;
➤ Snop slabijeg intenziteta za osjetljive uzorke (eng. low dose beam);
➤ Cryo anti kontaminacijski uređaj LNT (eng. Liquid Nitrogen Tank) kompatibilan s EDS spektrometrom s mogućnošću istovremene upotrebe;
➤ Sustav za usporednu svjetlosnu i elektronsku mikroskopiju, CLEM (Correlative Light Electron Microscopy) - pri niskim povećanjima mikroskop može prikazati cijelu površinu mrežice s promjerom od 2 mm na kameri.