University of Split

Malvern Panaytical Empyrean Series 3 difrakcijski sistem konfiguriran za veoma široki raspon primjena i eksperimenata. 

Moguće analize:

Fazna (kvalitativna) analiza anorganskih i organskih praškastih, krutih i pastoznih materijala
Strukturna i kvantitativna analiza Rietveld metodom
Fazna kvantitativna i semikvantitativna analiza
Proučavanje strukturnih promjena pod utjecajem visoke temperature (do 1200͒C)
Fazna analiza tankih filmova (kristaliničnih i amorfnih)
Mapiranje uzorka (mikrodifrakcija) s veličinom “spota” od 100 mikrona
Određivanje veličine, oblika i distribucije veličina nano-čestica metodom raspršenja na niskom kutu (SAXS) za uzorke koji mogu biti krutine, praškasti, emulzije, koloidi, otopine makromolekula veoma niskih koncentracija, pastozni materijal itd.
2D SAXS za određivanje uređenosti i orijentacije nano-čestica
Reflektometrija za određivanje debljine, hrapavosti i gustoće tankih filmova i višeslojnih sistema tankih filmova
2D GISAXS metoda za proučavanje tankih filmova, posebno filmova koji se sastoje od nano-čestica ili nano-struktura
Kompjuterizirana tomografija (CT) malih objekata s 3D rekonstrukcijom
Određivanje veličine kristalita
Određivanje zaostale napetosti u materijalu (Residual Stress)
Analizu orijentacije kristalita u materijalu (Texture)

CroRis

➤ Višejezgrena optika (iCore i dCore) kao i optikom za upadni snop: Focusing mirror HD;

➤ Križni prorez, FDS;

➤ Detektor: PIXcel3D-Medipix3, 1x1 veličina prozora 14mm x 14mm, učinkovitost Cu Kα >95 % 99%, raspon linearnosti 0 – 6.5 x 109 cps – sveukupno 0 - 25 x 106 cps - energetska rezolucija stupca around Cu Kα 18%, max. broj brzina 30 x 109 cps – sveukupno 120 x 106 cps - Column Max. background <0.5 cps - Overall Active length 14mm, 

najmanja veličina koraka: 0.0016º 2θθ na 240 mm radijusu goniometra, podržane valne duljine Cu, Co, Fe, Mn, Cr Point Spread Function (PSF) 1 pixel (FWHM) Defective pixels < 1% Nosač uzoraka: • Reflection-Transmission spiner 3.0 • Stage for flat sample • 3-axes Cradle Reflection i GISAXS • AP HTK 1200 oven with z axis • Prefix CT rotation stage • Scatter X78.